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熱阻量測
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使用LED 晶片溫度自動量測系統模擬分析LED 燈具效能
熱,造成發光功率飽和,使得內部元件變質,. 造成LED的發光效率及工作壽命相對降低。 目前一般高功率LED 之晶片溫度量測方法有. 包括熱阻法、接觸量測法、順向電壓法等 ...
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