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減少測試時間與增加測試質量之適性測試技術

減少 測試時間與增加測試質量之適性測試技術. 論文名稱(外文):, Test Time Reduction ... 英文. 論文頁數: 27. 論文摘要由於晶片面積日趨縮小，單晶片上的晶體數量日益增大 ...

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