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GaN氮化鎵元件的穩定及可用性並加速其商業化技術研討會

動態量測與動態可靠度分析可幫助元件開發者改善元件、正確評估元件的功率損耗及老化速率。本研討會特別邀請國立陽明交通大學吳添立教授前來分享，爾後將由宏汭精測 ...

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