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半導體熱電薄膜特性研究 - 行政院原子能委員會

二、摻鋁氧化鋅（AZO）薄膜熱電係數量測………………………12 ... 600K，其熱電seeback 係數量測結果為-20 (μv/k)，並隨著溫度升高 ... E 為楊氏係數(Yong modulus)， d.

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