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TiNi形狀記憶合金薄膜相變態溫度之研究 - NTU Scholars

分別以四種實驗方式，包括四點探針電阻率的量測、薄膜變形與溫度的關係、DSC微差熱掃描分析儀、楊氏係數量測，來比較所量測到的相變態溫度。四點探針實驗在薄膜發生相 ...

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