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XPS AES FIB TEM SEM 表面材料分析

化學分析電子能譜儀(XPS)是一種分析材料表面組織形態及化學結構的儀器，可適用於電機、機械、電子、材料、化學、化工等研究領域。ESCA的原理，簡單地說就是光電效應。

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