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曝光機euv
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https://www.tiri.narl.org.tw/Files/Doc/Publication/InstTdy/148/01480240.pdf
用於次25 奈米極紫外光曝光機之新穎反射型衰減式相位移光罩
相位移光罩(phase-shifting-mask) 是目前一種極為重要的解析度增益技術,它將被應用於未來. 的極紫外光(EUV) 微影術中,以製作25 nm 以下的圖案。
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