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X 光繞射分析技術與應用 - 台灣儀器科技研究中心

因此學者可以藉由結構精算而獲得更加精確的晶體參數，並進一步分析材料的. 特性。本文將由X 光粉末多晶繞射分析技術出發，並藉由所獲得之晶體參數，介紹其延伸應用，以 ...

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