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積體化探針卡技術介紹:Probe card,測試系統與研發工具 - CTIMES

又傳統的鎢針，因探針表面粗糙度高極易沾粘氧化鋁造成電性降低，如(圖十一)，經多次使用後需下線清針，如此將大幅度降低針測之throughput，而當接觸次數過多、清針無法 ...

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