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晶圓測試中的誤宰（Overkill）的判斷和處理 - 中國知網

【摘要】 晶圓測試作為集成電路生產中的重要一環,隨著芯片制造技術的飛速提升,晶圓測試面臨的挑戰也越來越多,測試所占的 ... 晶圓測試的結果是良率和分bin的map圖。

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