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晶圓測試流程
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完整的IC製作流程中,IC測試扮演極為重要角色,不論是晶粒切割前的晶圓級測試(Wafer Test)或封裝之後的功能電性測試,都是為了篩選出電性不良的產品來提高IC的出貨良率 ...
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