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薄膜分析儀-果昱企業股份有限公司

使用F20高級頻譜反射測量系統， 我們能輕鬆的實現對膜層厚度和光學常數(n和k值)的測量。通過對膜層頂部、底部反射光譜進行分析，數秒內我們即可得到膜層的厚度、折射率和 ...

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