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高分辨率微區光譜折射率測試儀 - Quatek

FilmTek™4000採用SCI的專利DPSD（差分功率譜密度）技術進行高精度折射率測量。光譜反射資料以正常入射角和70度收集。PSD處理在功率譜密度域中產生兩個峰值。

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