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材料分析Part B-4-3 TEM影像的對比機構– 2/3 TEM&STEM DF ...

第一類型暗場像用於分析晶體缺陷，影像中暗色背景區域和亮色特徵物屬同一晶粒。圖B-29(b)顯示一典型例子，差排造成晶體局部晶格扭曲，使該區域的繞射條件 ...

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