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工作壽命試驗(OLT) - iST宜特

IC工作壽命試驗、老化試驗(OLT)，為利用溫度、電壓加速方式， ... 早夭期(Infant Mortality )：故障率由高而快速下降- 失效原因為設計缺失/製程缺失。

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