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薄膜XRF 膜厚及成分分析 - 見微科技股份有限公司

薄膜XRF 膜厚及成分分析服務 X射線螢光光譜分析（XRF）是一種非破壞性的化學分析技術，它可以快速、準確地確定樣品中的元素種類和含量。該技術基於樣品受到X射線照射時 ...

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