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半導體第三章

半導體試片電阻率的量測使用四點探針法CF 為修正因子，由d/s 決定（例如d/s > 20 時， CF=4.54 ） 此法不適合半導體晶圓及薄膜; 19. 3.1.3 霍爾效應（ Hall Effect ...

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