西元2010 年美國哈佛大學C. M. Lieber 教授研究團隊利用矽奈米元件在不同操作電壓下 ... B1500A)搭配四點探針量測分析儀建構出第一代半導體量測分析平台(如圖1)進行多 ...
確定! 回上一頁