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光學同調斷層攝影術 - 嘉大光電實驗講義

利用SLD 寬頻光源低同調性的光源特性來測量蓋玻片的厚度，此即光學同. 調斷層攝影術（Optical Coherence Tomography, OCT）。 二、實驗儀器.

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