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半導體缺陷
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讓缺陷無所遁形– 碳化矽元件的缺陷檢測技術 - 知勢
化合物半導體的發展十分依賴智慧製造能力,智慧檢測公司科磊(KLA)主要是利用AI進行AOI智慧檢測良率,透過AI判斷是否為Killing的缺陷。
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