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半導體FT測試流程簡介- 長裕欣業(自動化設備製造商 ...

資料提供人員：鍾宏亮01003/VATE, 陳瑞賓07113/VATE. 測試製程乃是於IC封裝後，測試封裝完成的產品的電性功能，以保証出廠IC 功能上的完整性(符合Data ...

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