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半導體測試設備：巨頭壟斷，整合加速 - 每日頭條

測試 設備:晶片質量把關者. 半導體測試包括晶圓測試(CP)與晶片終測(FT） ... 晶圓測試的目的在於節省封裝成本. 晶圓測試. 設備:測試機+探針台.

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