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半導體測試原理
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http://ntour.ntou.edu.tw:8080/ir/handle/987654321/35971
Item 987654321/35971 - NTOUR - 國立臺灣海洋大學
半導體測試 的種類相當多,本論文以揮發性記憶體的最終測試為主要的研究對象。首先以記憶體工作原理為出發點,說明記憶體主要存取動作。而初步了解記憶體後 ...
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