你即將離開本站

並前往https://qkd.comptamy.fr/50767

探針卡原理. 垂直探针卡_产品中心_强一半导体（苏州）有限公司

半導體測試 用微機電探針(MEMS probe. 探針卡（英語：Probe card）是晶圓與电子测试系统之間的媒介。 探針卡通常直接放在探測器上並用接線連接測試機。

確定！ 回上一頁

查詢 「半導體測試原理」的人也找了：

  1. 半導體測試概論
    2.
  2. open short test原理
    3.
  3. ic測試項目
    4.
  4. 半導體測試聖經
    5.
  5. power short測試原理
    6.
  6. 半導體測試公司
    7.
  7. open short測試機
    8.
  8. open short定義
    9.