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晶圆级可靠性(WLR)测试系统- 半导体晶源测试解决方案- 和创联合

无论是测试厚栅氧，还是测试先进的栅叠层，用户只需简单的操作即可完成寿命加速特征分析。每个B2912A SMU都可以单独编程，因此可以对单个结构进行分离。 测试原理图：.

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