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提高IC測試品質的設計策略:EDA - CTIMES

實速掃描測試的原理其實相當簡單。只要利用慢速測試機台的時脈將測試向量送至掃描鏈中，並且在所要求的時間範圍內產生二個功能性的時脈波形，即可從一個正反器發送出 ...

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