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VLSI 測試技術之研究陳建基、鍾翼能

本文將針對記憶體及邏輯IC. 的測試方法做研究，介紹測試製程及各類測試機結構，進而探討測試原理。並將藉業界產品做為實例，分享異常分析案例 。 關鍵詞: 邏輯測試; 記憶體 ...

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