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集成电路测试及测试系统简介

二者的测试原理一样，. 都是通过自动测试设备连接IC 中集成的测试点，运行自动测试软件进行测试；区别是使用. 的测试设备和连接方式不同。 芯片探针测试（下文简称“ CP ...

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