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9. 單晶片控制之網路交換器控制IC測試系統 - TAIROA

因此，在IC的製造過程中，「測. 試」是確保IC產品良率；IC產品對測試的需求分為晶. 片（circuit probe，又稱wafer sort）測試與成品測試. （package test）兩個階段。晶片 ...

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