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智芯文庫| IC測試基本原理與ATE測試向量生成 - 每日頭條

IC測試 是指依據被測器件（DUT）特點和功能，給DUT提供測試激勵（X），通過測量DUT輸出響應（Y）與期望輸出做比較，從而判斷DUT是否符合格。圖1所示為IC ...

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