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掃描式電子顯微鏡/ Scanning Electron Microscope (SEM)

二次電子影像解析：3.0nm（高真空模式，加速電壓25KV) 背向散射電子影像解析度：4.0nm（可變壓力下，加速電壓25KV） 倍率範圍：X25～X20,000（153段） 加速電壓：0.3～ ...

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