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穿透式電子顯微鏡分析技術

優良的試片製備為產生優良影像的前提，TEM 試片為使電子束順利穿透，其厚度需加以. 適當地減薄，減薄的程度與加速電壓、解析度需求、材料種類及所感興趣的特質等有關。試.

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