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原子力顯微鏡原理- AFM

由於STM侷限於試片的導電性質，使得應用範圍大大的減少，為了能有更廣泛的應用科 ... 的凡得瓦力（Van der Waals force）與探針和表面的外層電子之間的庫倫排斥力。

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