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共軛系統
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DCM8 共軛焦及干涉差系統
eica DCM8 採用了最新的非接觸式三維光學表面測量技術。設計用於提高您的工作效率,它是一款融合了高清晰度共軛焦顯微鏡和干涉測量技術優點的多功能雙核系統。
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