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基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法 - Google Patents

本发明提供一种基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法，该方法在互相不能通视的A、B点之外加密一个新控制点C，通过采用全站仪的角度测回法以及往返距离的测量， ...

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