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二次离子质谱-激光扫描共聚焦显微镜联用对单细胞显微成像

摘要: 二次离子质谱（SIMS）分析主要用于半导体、地质等领域材料表面分析，随着科学仪器技术的发展，近年来，SIMS在生命科学领域中得到了越来越广泛的应用。

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