你即將離開本站

並前往http://www.kexishuju.com/faq/4

二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍 - 深圳柯西数据有限公司

简介. 二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「二次離子質譜」的人也找了：

  1. 二次離子質譜儀原理
    2.
  2. sims二次離子質譜
    3.
  3. tof sims分析
    4.
  4. sims分析原理
    5.
  5. 二次離子質譜儀ppt
    6.
  6. 飛行時間質譜儀原理
    7.
  7. Secondary ion mass spectrometry
    8.
  8. tof sims原理
    9.