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TOF-SIMS二次离子质谱仪

飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术。高能一次离子束（如Ga+，Bi3+， Arn+，Cs+等）轰击样品表面，在轰击区域产生包含样品表面成分信息 ...

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