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飞行时间——二次离子质谱仪 - 中国科学院上海应用物理研究所

飞行时间——二次离子质谱仪（TOF-SIMS）采用质谱技术分析材料表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。其工作原理是样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时，一次离子注入 ...

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