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飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS) PHI nanoTOF

在二次離子質譜儀(SIMS) 領域，飛行時間質譜概念上是最簡單的一種質譜儀，主要用於分離質量。在飛行時間質譜分析中，脈衝二次離子被加速到特定電壓（2至8千電子伏），使 ...

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