所谓XRD是用绕射原理得到绕射图谱,并从图谱数据库比对,即可推论晶体排列结构;而XRR(薄膜X光反射)则是XRD的反射图谱,藉此可以进一步得到薄膜厚度(达0.1nm厚度的精准度) ...
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