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X光螢光光譜儀XRF-1800 - 三津科技股份有限公司

... 厚度與無機成份分析的背景基本參數(FP)法膜厚分析功能,可同時得到不同鍍層厚度及單一鍍層中元素間含量比例,卓越性能的XRF-1800,高動態應用能力,適合各產業需求。

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