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XRF 與LIBS原理應用與能力比較 - 喬哈斯

XRF (X-Ray螢光分析儀)利用X-Ray撞擊電子軌域，電子離開電子軌域由其他層電子來遞補形成能量差，以螢光方式釋放。使用Si Pin檢測器或SDD Silcon drift檢測器， ...

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