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X-RAY膜厚測試原理(EX-731、FD-02) - 中茂儀器

X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀）. 是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。 使用型態. XRF 用 X光或其他激發源照射待分析樣品， ...

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