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薄膜X光繞射儀 - 嘉義大學

Thin film XRD. 【儀器原理及功能. 1.利用布拉格繞射原理量測粉末晶體結構方向、品質。 2. 應力(stress)分析。 3. 利用rocking curve 做XRR(X-ray reflectity).

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