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X射線繞射儀- 維基百科，自由的百科全書

X射線繞射儀（X-ray diffractometer，XRD）是利用X射線繞射原理研究物質內部結構的一種大型分析儀器。令一束X射線和樣品交互，用生成的繞射圖譜來分析物質結構。

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