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XRDX光射線繞射量測-北科大奈米光電磁中心

XRD 技術： ... 穿過樣品後的散射強度為基礎，並根據散射角度、極化度和入射X光波長對實驗結果進行分析。 ... X射線極圖分析：用於分析和測定晶態薄膜樣品中晶態方位。

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