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場發射式歐傑電子顯微鏡(AES)／微區表面化學電子能譜儀 ...

AES/ESCA/XPS一直是研究表面／薄膜材料之重要分析工具，而現代之場發射 ... 以下之影像解析度、低能離子縱深分析、高解析之化態分析、絕緣材質分析⋯ ...

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