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縱深及功函數分析技術就靠X射線光電子能譜儀 | 健康跟著走

藉由控制離子束濺蝕樣品的表面，分析來自不同深度的電子訊號，而得到元素成份的縱深分佈圖。 http://www.ndl.org.tw/images/devices-. 5. XPS Mapping ...

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