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xps分析c/s

XPS 可用于定性分析以及半定量分析，但是測的C峰結果中，而只有靠近材料表面的光電子 ... Mn 的2p 軌道高分辨圖譜顯示了641.8 eV (Mn 2p 3/2 ) and 653.5 eV (Mn 2p 1/2 ) ...

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